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標題: 開關損耗測試方案中的探頭應用 [打印本頁]
    

    
作者: PRBTEK    時間: 2021-11-17 11:05
    
標題: 開關損耗測試方案中的探頭應用
    如今的開關電源技術很大程度上依托于電源半導體開關器件，如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開關速度，能夠耐受沒有規律的電壓峰值。同時在On或Off狀態下小號的功率非常小，實現了很高的轉化效率，熱損耗極低。
    開關設備極大程度上決定了SMPS的整體性能。開關器件的損耗可以說是開關電源中最為重要的一個損耗點，課件開關損耗測試是至關重要的。接下來普科科技PRBTEK就開關損耗測試方案中的探頭應用進行介紹。

    


    

    上圖使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探頭

    

    以上方案中通過示波器專門的開關損耗算法，配合泰克探頭，完美補償探頭延遲，減少了開關損耗運算過程中產生的誤差。測試結果極為可靠。

    


    

    TCP0030A及THDP0200參數
    探頭外觀圖

    

    TCP0030A

    

    THDP0200
    附：常見參數介紹
    1、帶寬，代表了探頭可測到的最大信號頻率
    2、共模抑制比，代表了探頭抑制共模干擾的能力，越大代表抑制能力越強
    3、輸入電容，代表探頭對于被測系統的負載影響，輸入電容越低，影響越小測試效果越佳
    以上內容由普科科技prbtek為您分享，如果您在選型/使用過程有什么問題，咨詢普科科技官網：www.prbtek.com
    公司目前致力于示波器測試附件配件研發、生產、銷售，涵蓋產品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等。

    





    

    

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