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電子工程網»論壇 › 技術區 › 測試測量 › 納米軟件芯片測試帶你走進啟動電壓與欠壓鎖定

納米軟件芯片測試帶你走進啟動電壓與欠壓鎖定

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發布時間: 2023-10-7 16:08

正文摘要:

　　每種芯片在設計階段都會對一些核心指標參數進行提前的計算規劃，而在芯片生產之后，也會對這些核心參數進行測試，兩組數據進行對比以便了解生產的芯片指標參數是否在當初設計時的規定范圍之內，從而整體把控芯片 ...

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