重新定義射頻測試---5G與物聯網時代射頻測試挑戰的應對之道
開始時間:2015-07-14 10:00:00
研討會介紹
隨著無線標準的不斷演進,特別是伴隨著5G與物聯網時代的到來,無線產品的射頻測試面臨著測試復雜性與成本的雙重挑戰。NI使用以軟件為中心的PXI模塊化射頻儀器應用架構,基于平臺化開發的技術思想,使用現成可用的模塊化射頻與中頻儀器,通過LabVIEW軟件和豐富的射頻與無線工具包以及射頻電路設計軟件,工程師可以快速實現射頻與無線應用設計,開發以及測試的全部流程。在本次研討會中,NI射頻產品經理姚遠先生將為您介紹基于NI平臺能夠實現多種射頻應用,并將與您分享多個業界領先的成功案例,歡迎您參與討論。
演講人介紹
姚遠(市場開發經理)
姚遠先生目前擔任美國國家儀器中國地區市場開發經理,負責NI射頻與無線通信產品及方案在本地市場的推廣與合作等工作。此前,姚遠先生曾在NI公司擔任應用工程師,系統工程師,技術市場工程師等職務,在測試測量與自動化領域具有多年的系統開發及行業經驗。姚遠先生畢業于上海交通大學,獲碩士學位。
參會獎品
本場研討會抽獎獎品:車載充電器(10個),16G U盤(20個)
答疑專家
曹行(資深應用工程師)
曹行先生畢業于東南大學,毫米波國家重點實驗室,獲微波射頻專業碩士學位,現擔任NI中國資深應用工程師。負責NI產品的技術支持,行業技術研討會,客戶培訓以及大型項目技術支持工作。精通VST,FlexRIO,USRP-RIO等軟件無線電領域產品及5G相關應用,擁有豐富的射頻項目支持、咨詢與開發經驗。
孫平山(資深應用工程師)
孫平山先生畢業于南京東南大學信號與信息處理專業,獲取碩士學位,現任NI中國資深應用工程師職位。負責現場技術支持、大型項目開發等,對RFID,軟件無線電等領域有較深的理解,熟練掌握VST、FlexRIO、以及例如5641R等中頻板卡。