選擇硬件在環（HIL）測試系統I/O接口
發布時間：2010-10-23 21:24
發布者：conniede
|
1 概覽 高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環測試系統所必須的。硬件在環（HIL）測試系統體系結構教程討論了多種硬件在環測試系統體系結構和用于實現的實時處理技術。本教程討論了多種I/O接口選項，能夠用于實時處理器創建您的硬件在環測試系統。 多功能I/O 硬件在環測試系統需要多種模擬、數字和計數器/定時器接口與被測電子控制單元（ECU）進行交互。NI多功能數字采集產品將所有功能集成在單個設備中，為硬件在環測試系統I/O接口提供了高價值的選擇。高性能模擬數字和數字模擬轉換器結合了用于計數器/定時器功能和與實時處理器之間進行低延時數據傳輸的板載處理能力，讓這些接口成為硬件在環測試系統應用的理想選擇。 基于FPGA的I/O 基于NI現場可編程門陣列（FPGA）的I/O將模擬I/O以及數字I/O與FPGA整合在單個儀器中。這些設備使用NI可重復配置I/O（RIO）FPGA技術，它提供了用于可編程的FPGA功能，可以用于創建定制I/O功能并減少實時處理器進行模型執行和信號處理的負荷，從而提高硬件在環測試系統的性能。使用NILabVIEWFPGA模塊，您可以定義您自己的硬件特性，而無需具備硬件描述語言的深入知識。 確定性分布式I/O NI提供了全新的確定性分布式I/O產品，幫助您創建基于I/O的分布式硬件在環測試系統，降低布線成本和復雜性。從一系列I/O模塊中進行選擇，創建分布式I/O接口通過確定性的以太網與您的實時處理器進行通信。 總線接口 許多ECU使用通信總線接口與系統中的其他設備共享信息。NI提供了多種軍事/航天、汽車和工業總線接口，您還可以使用基于NIFPGA的I/O接口為您的硬件在環測試系統實現定制協議。 NIAIMPXI模塊的選擇包含MIL-STD-1553、ARINC429以及AFDX接口。每個模塊都帶有板載應用程序支持的處理器、豐富的板載內存和IRIG-B時間代碼生成器/解碼器，滿足硬件在環測試系統的需求�；赑XI的模塊能夠使用PXI背板提供的高級定時與同步功能。 NICAN與FlexRay接口基于通用API，使用集成數據庫用于對FIBEX、.DBC和.NCD文件的信號進行導入和編輯。還提供了DeviceNet、Modbus、PROFIBUS、RS232、RS485和RS422接口。 儀器級I/O NI模塊化儀器在模塊化尺寸中提供了儀器級測量和信號發生，您可以集成到硬件在環測試系統中。從一系列數字萬用表（DMM）、示波器、信號發生器和射頻儀器中進行選擇，然后在軟件中進行配置滿足您特定測試系統的任務需求。 圖像采集 NI智能相機家族提供了VGA（640×480象素）和SXGA（1280×1024象素）解析度，使用它可以將圖像分析添加到硬件在環測試系統中驗證儀器面板顯示或執行器響應。通過在板載PowerPC和數字信號處理（DSP）協處理器上直接處理圖像，能夠確保對硬件在環測試系統產生最小的影響。 運動控制 NI提供了一系列運動控制解決方案，其中包括包含完整功能的高性能控制器，可用于最復雜的需求和低成本運動控制器，滿足點對點運動控制應用的需求。NI運動控制產品提供了高級功能，幫助您有效實現例如精確定位、多軸同步和以已定義的速度、加速度或減速度運動等通用任務。 第三方硬件支持 使用PXI多廠商標準提供了來自70多個廠商的超過1200種產品，確保NI硬件在環平臺始終滿足您的硬件在環應用需求。 2 總結 如果您希望在硬件在環測試系統中實現硬件故障插入，請了解NI硬件在環平臺上的可用選擇。 要完成您的硬件在環測試系統，了解用于硬件在環測試系統實現的軟件技術，包括測試自動化、需求管理、建模、分析以及報告，請閱讀開發硬件在環（HIL）測試系統應用。 |
網友評論