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    MC68HC912B32背景調試模式設計

    發布時間:2010-11-24 11:43    發布者:eetech
    關鍵詞: MC68HC912B32 , 背景 , 調試 , 模式
    隨著Flash技術在微處理器上的廣泛應用,使單片機在開發和應用手段上有了革命性的變化,從傳統的仿真器(ICE)到目前流行的JTAG,設計人員在不斷尋找一種移植性更高、更易操作、費用更低的開發手段。使用傳統的仿真器進行嵌入式開發時,通常調試工具會受價格和煩瑣的操作所限制,但是隨著微處理器制造工藝的提高及Flash技術的發展,一些高端微處理器(如CPU12/16/32、PowerPC、ColdFire等)內部已經包含了用于調試的微代碼,并可以通過背景調試模式BDM(Background Debug Mode)進行調試,由于這種方法省去了仿真器,因此避免了高頻操作、交直流電不匹配等問題,隨著BDM標準的不斷規范和普及,用BDM調試模式進行嵌入式開發已經成為一種首選。

    MC68HC912B32(以下簡稱B32)是由Freescale公司推出的一款基于CPU12核心的16位嵌入式MCU。它具有體積小、功耗小、功能多等優點,主要用于汽車電子、工業控制、醫療設備等領域,它是Freescale公司較早提供的一款背景調試模式的16位MCU。背景調試模式是Freescale公司自定義的片上調試規范。

    1 背景調試模式介紹

    BDM是由Freescale半導體公司推出的一種單線(Single Wire)調試方式,是目前單片機普通采用的調試方式之一。其他公司的嵌入式處理器也有類似的調試方式,如AMD公司的X86μP系列微處理器提供的AMDebug調試方式等。

    BDM調試方式為開發人員提供了底層的調試手段,開發人員可以通過它初次向目標板下載程序,同時也可以通過BDM調試器對目標板MCU的Flash進行寫入、擦除等操作,用戶也可以通過它進行應用程序的下載和在線更新、在線動態調試和編程、讀取CPU各個寄存器的內容、單片機內部資源的配置與修復、程序的加密處理等操作,而這些僅需要向CPU發送幾個簡單的指令就可以實現,從而使調試軟件的便攜變得非常簡單,通常自己就可以編寫,BDM硬件調試插頭的設計也非常簡單,關鍵是要滿足通信時序關系和電平轉換要求。

    目前常用的標準BDM調試插頭如圖1所示,各個引腳信號的定義如表1所示。










    2.1 總體概述

    以CPU12為內核的MCU的運行模式有單片方式(Single chip)和擴展方式(Expanded Mode)兩種。運行模式主要由BKGD、MODB和MODA引腳的狀態決定,各個模式與引腳狀態間的關系見表2。單片模式又分普通單片模式(Normal Single Chip)和特殊單片模式(Special Single Chip)兩種,而只有在特殊模式下BDM才能被激活,因此特殊單片模式又稱BDM模式。圖2為PC機通過BDM插頭與目標機相連。









    2.2 BDM指令介紹

    BDM有兩類指令。一類是在一般運行模式下可以直接執行的,被稱為硬件指令(Hardware Command);另一類則是只能在BDM模式下執行的程序,這些程序在進入BDM模式后被固化在地址為﹩FF00-﹩FFFF的ROM中,被稱為固件指令(Firmware Command)。

    因為BDM控制模塊不在CPU中,所以BDM硬件指令可以在CPU正常運行時被并行執行,其他BDM指令是基于固件的,必須在CPU處于BDM模式下才能執行。硬件指令允許讀寫目標系統內(包括片內RAM、EEPROM、I/O控制寄存器等)的所有內存。硬件指令可以不在BDM模式下執行,表3列出了BDM模塊常用的硬件指令。






    固件指令必須在HC12單片機的BDM ROM中執行,且CPU必須在BDM模式下才能執行,通常使用硬件指令BACKGROUND使CPU進入BDM模式,當BDM被激活時,BDM ROM就被分配到地址空間:﹩FF20-﹩FFFF,同時7個BDM寄存器被分配到地址空間:﹩FF00-﹩FF06,此時CPU就可以通過執行ROM中的代碼完成相應的固件指令操作。表4列出了BDM的7個寄存器,表5介紹了常用的3個固件指令。









    2.3進入BDM模式

    下面介紹使目標機進入BDM模式的兩種常用方法。

    方法1:將目標機的BKGD引腳拉低,然后給目標機的RESET引腳加低電平,即給目標機復位,復位脈沖要足夠寬,至少要大于目標機的512個時鐘周期。本文采用Freescale公司的8位微處理器MC68HC908JB8(簡稱JB8)制作BDM調試頭,用其PTA0和PTA1口控制目標機的RESET和BKGD引腳,此方法通過軟件編程的方式進入BDM模式。

    方法2:通過硬件跳線的方式將BKGD置低電平,在目標機復位后再將BKGD置高電平,以進入目標機的BDM模式。進入BDM模式后,帶有BDM程序的片內專用ROM將Flash的﹩FF00-﹩FFFF替換,此空間在普通單片方式下存放中斷向量。該方法僅通過硬件跳線的方式進入BDM模式。

    3 B32的BDM調試系統設計

    3.1 BDM調試其系統硬件設計

    該BDM調試器的BKGD和RESET信號分別由JB8單片機的I/O口PTA1、PTA0提供。雙方通信引腳使用漏極開路驅動(或稱線或)的方式,平時靠上拉電阻維持高電平。Flash編程電源VFP由MAX662提供,MAX662是一款專門提供12V Flash編程電壓的芯片。MAX662外圍電路原理圖如圖3,BDM調試插頭電路原理圖如圖4。












    3.2 BDM調試器系統軟件設計

    CPU12的BDM通信協議也稱為單線通信協議。下面按照該協議,以JB8作為主控制芯片詳細介紹B32的BDM調試系統的軟件設計。在程序開始前,需要宏定義一些常量以方便下面程序的調用。具體的宏定義有:







    3.2.1 調用讀寫匯編子程序

    通過調用讀寫匯編子程序,可以讀取和發送一個字節,具體函數如下:




    調用寫子程序的輸入參數是需要被寫的一個字節,調用讀子程序的返回參數是讀取到的一個字節。

    3.2.2 讀寫匯編子程序

    主機方以下降沿通知目標機方的BKGD端,位通信開始,每一位傳輸至少需要16個時鐘周期。具體過程如下:





    主機首先拉低BKGD引腳,并時低電平維持時間不短于512個時鐘周期,目標機探測到下降沿信號后清命令寄存器,同時等待接收主機的BDM命令。

    主機寫位0到目標機BKGD端的操作為:主機拉低目標機的BKGD端不少于12個時鐘周期,目標機在探測到低電平以后的第10個周期對BKGD采樣,讀入該位的0。

    主機寫位1到目標機BKGD端的操作為:主機拉低目標機的BKGD端2-4個時鐘周期后釋放BKGD端,使之為高電平,目標機在探測到低電平以后的第10個周期對BKGD采樣,讀入該位的1。

    下面是寫一個字節的匯編代碼:








    主機讀目標機BKGD端的信息時,主機拉低目標機BKGD端2-4個周期后釋放BKGD端,然后定義該引腳為輸入狀態,讀取BKGD端的電平,如果目標機輸出為0電平,則繼續拉低BKGD端,從探測到主機拉低BKGD端起持續13個時鐘周期,所以主機的讀操作應在從拉低BKGD線算起的13個時鐘周期內完成,對于目標機輸出為1的情況,無需目標機輸出高電平,因為BKGD端已用電阻上拉,只需定義該引腳為輸入,則自然會使之為1。

    下面是讀取一個字節的匯編代碼:

    對于硬件命令,命令之間間隔要大于150個時鐘周期,對于固件命令,送出讀命令到讀取數據之間要延遲32個時鐘周期,寫命令后面可緊跟需要寫的數據,但與下一條命令之間要間隔32個時鐘周期。

    3.2.3 測試程序

    為了測試以上程序的正確性,特用VC6.0編寫了一個計算機端的測試程序。該程序通過串口與JB8通信,以完成對B32 Flash的讀寫和擦除。由于源代碼較長,限于篇幅不在此列出。
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