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    MVG發布MiniLAB系統新功能 為在LTE設備上測量RSE提供了 全新方案

    發布時間:2019-9-2 10:04    發布者:eechina
    關鍵詞: MiniLAB , RSE , 無源天線 , 天線測量 , OTA測試
    法國Microwave Vision Group (以下簡稱MVG) 近日宣布在其備受業界歡迎的MiniLAB系統中集成了RSE和無源天線測量功能。MiniLAB系統現不僅可以進行高準確度的OTA測試,還能提供無源測量,并為在LTE設備上測量RSE提供了一個全新方案。



    在無源天線測量上,MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中,可加快測量速度,并為直徑達30 cm *的被測設備繪制天線輻射圖,使其成為優化各種設備天線性能的理想解決方案。

    輻射雜散發射(RSE)是指被測設備(DUT)發出的所有非基本發射。高水平的輻射發射會對某些特定無線產品帶來功能上的挑戰,干擾其他無線設備或無線電系統,或者改變設備本身的運行效率。

    出于這個原因,諸如國際電信聯盟(ITU)、歐洲無線電和電信終端設備(R&TTE)指令以及聯邦通信委員會(FCC)的標準化機構對在無線設備上測量RSE進行了嚴格的測試要求規定。這些測試要求旨在消除被測設備附近有其他無線設備時的干擾風險。

    過去一直以來都是使用垂直掃描機械運動來測量RSE,以便在方位角旋轉時監控設備。但這與許多傳統測試方法一樣,在設計和生產過程中非常耗時,而對廠商來說上市時間又是至關重要的。

    相比較,MiniLAB采用多探頭技術,為在LTE和其他有源設備上測量提供了一個全新的RSE測試方案。在提供準確、穩定的數據同時,可以更快速、更詳細、更經濟地解決企業的RSE測試需求。

    使用MiniLAB可以大幅縮短測量時間和提交精確測量數據,其集成的多探頭陣列采用電子掃描來測量無線設備,使用戶能夠更輕松、更快速地在高達6 GHz的LTE頻段測量RSE。測量完成后,20秒內即能獲得RSE測量結果。

    MiniLAB配備全電波暗室,屏蔽效能 > 100 dB,并提供高動態范圍,可測量傳輸無線信號和周圍發射的峰值電平而不會造成任何失真。
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