如何不費力的給電子元器件做老化測試？

由于社會發展的需要，電子裝置變的越來越復雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快、消耗功率小以及質量輕、小型化、成本低等特點。自20世紀50年代提出集成電路的設想后，由于材料技術、器件技術和電路設計等綜合技術的進步，在20世紀60年代研制成功了第一代集成電路。在半導體發展史上。集成電路的出現具有劃時代的意義：它的誕生和發展推動了銅芯技術和計算機的進步，使科學研究的各個領域以及工業社會的結構發生了歷史性變革。憑借優越的科學技術所發明的集成電路使研究者有了更先進的工具，進而產生了許多更為先進的技術。這些先進的技術有進一步促使更高性能、更廉價的集成電路的出現。對電子器件來說，體積越小，集成度越高；響應時間越短，計算處理的速度就越快；傳送頻率就越高，傳送的信息量就越大。半導體工業和半導體技術被稱為現代工業的基礎，同時也已經發展稱為一個相對獨立的高科技產業。尤其需要一種能對電子元器件進行自動測試的系統。

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Ø 系統能夠實現對FPFA/DSP芯片、電磁繼電器、電容、電源模塊等在環境應力在的高速瞬時測試。

Ø 可實現對電源、LCR數字電橋、絕緣耐壓測試儀、電子負載、示波器、邏輯分析儀、數據采集器等測試儀器的并行控制。

Ø 所有儀器的連接可在硬件設置界面通過自動檢測的功能實現，并支持儀器更換品牌型號的兼容。

Ø 在進行環境應力測試與被測產品參數測試前用戶只需對儀器設備的參數進行設置，即可進入自動化測試。

Ø 測試系統滿足不同產品在環境應力實驗的同時進行多種參數的測試。

Ø 系統滿足在線測試的要求，提供多功能的對象適配模塊，使被測產品可固定可外接高頻耐高溫鍍銀線纜實現實時測試，且對象適配模塊兼容不同被測產品類型。

Ø 針對FPGA多達256引腳測試，系統采用引腳測試模塊與對象適配模塊的方式完成�？蓪⑿酒�256路引腳接入外圍的引腳測試模塊中，并行測試結束后，用戶可更換引腳測試模塊的連接線至下一批測試的引腳，這樣順序執行即可完成256路引腳測試。

Ø 系統不但運行時間長，而且能夠確保數據的準確性和運行的穩定性。

Ø 系統提供用戶自定義報告模板的功能，實現報告的多樣化和靈活性。

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