燦芯半導體自主研發40nm 芯片流片驗證成功
發布時間：2011-6-24 07:55
發布者：Liming
|
燦芯半導體（上海）有限公司與中芯國際集成電路制造有限公司(簡稱“中芯國際”)近日共同宣布燦芯半導體第一顆40nm芯片在中芯國際一次性流片驗證成功。 燦芯半導體與新思科技有限公司（Synopsys, Inc.,）及中芯國際深度合作，使燦芯自主研發的40nm芯片一次性流片成功。這顆芯片集成了Synopsys DesignWare® 嵌入式存儲器和邏輯庫，以及中芯國際自主研發的PLL、I/O等關鍵IP部件，成功驗證了燦芯半導體在40nm工藝線上的前端和后端設計流程。 燦芯半導體總裁兼首席執行官職春星博士說：“燦芯半導體不僅擁有高素質的設計團隊，而且一直以嚴謹的態度對待每次設計，這使得我們的驗證能夠一次性成功。40nm芯片的驗證成功，對燦芯半導體來說是一次飛躍，標志著燦芯已經躋身于世界先進設計服務公司行列�！� 新思科技中國區總經理李明哲表示：“新思科技與燦芯半導體這一次成功合作，體現了我們為確保加速客戶的設計流片過程做出的努力。燦芯半導體40nm 芯片的驗證成功，不僅證明了新思科技的參考設計流程與中芯國際40nm工藝線的成功結合，同時也展示了燦芯半導體深厚的設計實力�！� 中芯國際商務長季克非說：“很高興看到燦芯半導體40nm芯片在中芯國際驗證成功。這次三方共同努力的成果證明了中芯國際40nm先進工藝平臺已具備支持尖端設計項目的能力。希望燦芯半導體繼續與客戶緊密合作，早日在40nm制程上實現量產�！� |
網友評論