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  • 采樣示波器的原理和應用

    發布時間:2024-12-31 14:06    發布者:維立信測試儀器
    關鍵詞: 采樣示波器
    采樣示波器,也稱為等效時間采樣示波器,其原理和應用如下:
    一、原理
    • 等效取樣技術:采樣示波器的根本原理是利用等效取樣技術,將周期性高頻(或高速)信號變換為與原來信號波形相似的低頻(或低速)信號。每個信號周期只取樣一次(或幾次),取樣信號依次地延遲Δt,完成一個取樣周期后,離散信號的包絡反映原信號的波形。這種固定延遲時間有順序的取樣也稱為順序取樣。而當一個周期取幾次樣時,取樣點必須重新排列,也稱為隨機取樣。
    • 采樣定理:采樣示波器基于采樣定理,通過對輸入信號進行采樣和保持,將連續信號轉換成離散信號,并進行數字化處理和重建,最后實現波形顯示。其中,采樣和保持單元負責對輸入信號進行采樣和保持,采樣速率決定了示波器的帶寬。
    • 信號處理:采樣示波器具有較高的信號處理能力和靈活性,可以對復雜的信號進行較大程度的處理和分析。同時,由于采樣定理的存在,其帶寬可以達到甚至超過其采樣率的一半,具有較高的頻率響應。
    二、應用
    • 測量高速電信號:采樣示波器前級沒有衰減器或放大器電路,專門用于測量高速信號。它具有較高的頻率響應和較寬的帶寬,能夠觀測和分析高頻信號。
    • 測量光信號:采樣示波器可用于光信號的測量,例如通過連接光模塊/光傳輸設備,無需觸發信號即可進行評估。
    • 阻抗測量:使用TDR(時域反射計)進行阻抗測量,可以直接評估流經印刷電路板和連接它們的電纜的數字信號的質量(信號完整性)。
    • LSI性能測量和分析缺陷:在半導體測試中,采樣示波器可用于測量LSI(大規模集成電路)性能和分析缺陷。
    綜上所述,采樣示波器在電子測量領域具有廣泛的應用前景和重要的研究價值。隨著科學技術的不斷發展,采樣示波器的性能和功能將進一步提升和完善,為電子測量領域的發展做出更大的貢獻。

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