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  • 微小電阻測試解決方案

    發布時間:2020-2-18 09:42    發布者:安泰測試設備
    關鍵詞: 微小電阻測試 , 材料測試 , 納米測試 , 源表 , 半導體
    一、系統背景
    電阻測試是表征材料特性的較常用的測試手段,在某些應用中,用戶需要進行極端微小電阻(Ultra-lowresistance)測試,例如納米材料,超導材料,繼電器開關,低電阻材料、連接器的測試,或者精密的熱量測定和研究領域。這些被測件通常具有非常高的導電性和非常小的電阻阻值,對測試連接方案有很大挑戰。在進行這類材料和器件的測試過程中,為了最大限度的降低被測設備的自熱效應,確保待測件的安全和測量的準確性,通常會使用加流測壓的方式,在被測物兩端施加可控的微弱精密電流信號,通過歐姆定律測定被測件的電阻阻值。
    上圖為融化斷裂的納米管,由于施加電流過大自熱引起斷裂
    在微小電阻測試領域,泰克公司提供的微小電阻測試 方 案, 通 過 使 用 吉 時 利 高 精 度 電 流 源 622X(100fA~100mA輸出可調)或 2400 系列源表,以及納伏表 2182A(1nV 靈敏度)組合成為完備的測試解決方案,完美解決了在微小電阻測試過程中經常遇到的問題,使電阻測量靈敏度高達 10nΩ。
    配合上位機軟件和測試夾具,可以一站式解決用戶在儀表與待測件連接,測試結果存儲,以及數據分析過程中遇到的繁雜問題,提高測試效率。
    二、方案特點
    極高的電阻測試分辨率和大測試量程相比其他方法,622X + 2182A 方案提供了高達 10nΩ的電阻測試分辨率,提供了極高的性價比。更好的發熱控制622X 電流源輸出的電流分辨率高可以達到 100fA,可以精確控制加載在待測件兩端的電流大小,確保待測件處在安全狀態下更先進的測試方法,消除熱電動勢
    可以使用 Delta Mode 模式消除,自動觸發電流源使信號極性交替變化,電流反向法消除了任何恒定的熱電失調,確保測量結果反映真實電壓值,大幅度降低測量中的噪聲信號交鑰匙方案設計,可以提供完整的測試夾具方案和上位機數據采集處理軟件
    低阻測試軟件界面
    三、系統構成
    系統主要由 622X 高精度電流源(或 2400 系列高精度源表)、2182A 納伏表、測試夾具、轉接盒和上位機軟件構成。
    622X 精密電流源可以輸出正負電流,編程分辨率高達100fA,6221 可以輸出帶寬在 1mHz ~ 100KHz 的交流和任意電流波形
    2182A 具備 1nV 電壓測試分辨率,提供兩個獨立測試通道,可以與622X 配合實現 Delta Mode 測試。
    CT-MICR-ADP 轉接盒
    方案還提供專用轉接頭配件 CT-MICR-ADP,可以將622X 和 2182A 的各種輸出接口(插片或者鱷魚夾)統一轉接為標準的 4 終端 BNC 接口,方便與其他夾具或者探針臺進行互連。
    通過 CT-MICR-ADP 連接微小表面貼裝器件的夾具
    上位機測試軟件 Cyclestar-MICR 提供了多種測試模式,包括 R-T 功能,電流掃描測試功能,Delta Mode模式。
    在 Delta Mode 下的軟件測試界面
    軟件的 Pro 高級版還集成了脈沖測試功能,微分電導測試模式和 622X 任意波形輸出功能。
    Pro 版本提供的脈沖、微分電導和任意波形輸出功能
    一體化測試方案可以幫助客戶在短時間內搭建起微小電阻測試環境,針對不同物理尺寸,不同連接方式,和不同測試方法都可以快速方便的進行連接測試,并在電腦端直接記錄獲取數據進行后續分析。
    四、系統結構
    使用 CT-MICR-ADP 轉接盒還可以將測試系統與探針臺或其他夾具進行連接
    五、儀器配置
      
    電流源
      
    6220/6221 吉時利電流源
    納伏表
    2182 吉時利納伏表
    轉接盒
    CT-MICR-ADP 四終端 BNC 接口
    上位機軟件
    TSP-2000-MICR
    其他
    測試夾具或探針臺
    安泰測試將和泰克吉時利廠家一起,為客戶提供更優質的服務和全面的測試方案
    本文地址:http://www.portaltwn.com/thread-577617-1-1.html     【打印本頁】

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